泛联新安亮相2021信息技术应用创新论坛

7月14日，2021信息技术应用创新论坛在长沙开幕。湖南省政府副省长陈飞出席并讲话。中国工程院院士廖湘科出席。工业和信息化部信息技术发展司副司长江明涛，湖南省工业和信息化厅党组书记、厅长毛腾飞，长沙市人民政府市长郑建新出席并致辞。

主论坛上，陈飞副省长全面解读发展信创产业的重要意义，强调应用对拉动技术创新和产业发展的重要作用，并表示湖南省将按照党中央决策部署抓住机遇，加快打造国内IT产业高地。

湖南省工业和信息化厅发布湖南信创产业发展报告，廖湘科院士对“两芯一生态”图谱进行解读，中国工程院和重庆市渝中区人民政府、中国电子工业标准化技术协会信息技术应用创新工作委员会及五项赛道主办单位共同开启2021信创“大比武”活动赛道并做赛道解读，长沙高新区管委会介绍湖南信创产业载体，相关企业分享新产品及应用。

本届论坛由中国电子工业标准化技术协会信息技术应用创新工作委员会、湖南省工业和信息化厅、长沙市人民政府共同主办，通过主题演讲、专题报告、用户分享、产品发布、方案演示等活动，分享实践经验、研判产业趋势、探讨发展路径，共话信创产业创新之路，加快信创生态健康发展。来自产学研用金等各界的千余名代表参加本次论坛。

在6场分论坛上，60家单位结合“芯片技术与信创产业发展”、“基础软件创新发展”、“信创标准化”、“信创数据基础设施”、“湖湘特色应用示范创新”、“湖南信创技术发展”等主题做分享与交流。信息技术应用创新展览部分，分4个区域，集中展示133家参展单位的最新产品和应用。

泛联新安受邀参加本次论坛，于中央展区、湖湘特色展区分别展出国产自研的 IUNIT 智能单元测试平台、CODESENSE PRO 软件源代码缺陷深度分析平台、VHAWK HDL代码缺陷检查管理平台、BINSEARCH 二进制代码大规模同源分析平台与 INTERRUPTSAFE 中断缺陷检测工具。

泛联新安掌握着软件安全与测试核心技术，产品具有完全自主知识产权，具备优秀的国产化软硬件生态适应能力，支持国产化芯片与系统，同时能够为用户针对性定制各类代码编写规则集，定制测试报告输出模板，极大地提升了国内用户软硬件研发的效率。凭借丰富的平台兼容能力，丰富的的产品性能，泛联新安的产品平台展示出了湖南“两芯一生态”的成果。

未来，泛联新安将积极推动技术创新，基于广泛的国产自主软件与硬件支持，为更多用户提供业界先进的软件开发、单元测试、安全测试解决方案以及EDA平台。